太赫兹无损扫描成像及测厚
分析测试

太赫兹波对于各种非导电材料,例如塑料、陶瓷、复合材料、泡沫和纸张穿透能力强。在穿透过程中,太赫兹信号会根据介质的不同进行特异性变化。据此原理并结合扫描技术,太赫兹光谱技术可以用于探测、成像和识别这些材料表面下的缺陷或异常,且具有无损性和安全性。

针对平面样品和曲面样品,开发不同的太赫兹无损扫描检测系统,并为其配套专业扫描成像、厚度测量软件,实现对非极性电介质材料表面及内部缺陷的三维无损探测成像,对微米级、多涂层的厚度精准测算,适用于汽车工业、航空航天、锂电池电极、非金属管道、泡沫塑料等多领域非极性材料无损检测,在材料检测、无损探伤、医疗检查,以及文物资料研究等多个领域具有较好的发展潜质。


应用

参考文献:

  [1]  张洪桢,何明霞,石粒力,等.  随机优化算法应用于太赫兹测厚方法的研究    [J].  光谱学与光谱分析,  2020,  40  (10):  3066-3070.  

  [2]  林玉华,何明霞,赖慧彬,等.  太赫兹脉冲光谱法测量微米级多层油漆涂层厚度技术    [J].  光谱学与光谱分析,  2017,  37  (11):  3332-3337.  


相关仪器
自由空间曲面多层测厚系统

系统名称:自由空间曲面多层测厚系统

系统组成:Menlo Systems TeraSmart太赫兹时域光谱仪、UR10系列六轴机械臂、自主研发多层测厚系统

系统参数:波谱宽度0.1 THz -3 THz、空间测量半径为1.3 m、测厚层数达3层、最小测厚值可达10 μm、绝对精度2 μm、工作重复频率>10 Hz;

检测模式:三维空间范围内扫描及测量

二维无损扫描成像系统

系统名称:二维无损扫描成像系统

系统组成: Thorlabs  LTS150/M平移台等

系统参数:最小校准轴精度5.0 μm、扫描范围150 mm×150 mm、最大扫描速度:50 mm/s(水平)、3 mm/s(垂直)

检测模式:二维平面扫描

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